Precision Measurement of Charged Pion and Kaon Differential Cross Sections in<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:msup><mml:mi>e</mml:mi><mml:mo>+</mml:mo></mml:msup><mml:msup><mml:mi>e</mml:mi><mml:mo>−</mml:mo></mml:msup></mml:math>Annihilation at<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:msqrt><mml:mi>s</mml:mi></mml:msqrt><mml:mo mathvariant="bold">=</mml:mo><mml:mn>10.52</mml:mn><mml:mtext> </mml:mtext><mml:mtext> </mml:mtext><mml:mi>GeV</mml:mi></mml:math>

M. Leitgab; R. Seidl; M. Grosse Perdekamp; A. Vossen; I. Adachi; H. Aihara; D. M. Asner; V. Aulchenko; T. Aushev; A. M. Bakich; B. Bhuyan; A. Bondar; A. Bozek; M. Bračko; J. Brodzicka; T. E. Browder; V. Chekelian; A. Chen; P. Chen; B. G. Cheon; K. Chilikin; K. Cho; V. Chobanova; Y. Choi; D. Cinabro; J. Dalseno; Z. Drásal; D. Dutta; S. Eidelman; D. Epifanov; H. Farhat; J. E. Fast; V. Gaur; N. Gabyshev; R. Gillard; F. Giordano; Y. M. Goh; B. Golob; J. Haba; K. Hayasaka; H. Hayashii; Y. Hoshi; W.-S. Hou; Y. B. Hsiung; H. J. Hyun; T. Iijima; A. Ishikawa; R. Itoh; W. W. Jacobs; T. Julius; J. H. Kang; P. Kapusta; E. Kato; T. Kawasaki; H. J. Kim; H. O. Kim; J. B. Kim; J. H. Kim; M. J. Kim; J. Klucar; B. R. Ko; P. Kodyš; R. T. Kouzes; P. Križan; P. Krokovny; R. Kumar; T. Kumita; Y.-J. Kwon; J. S. Lange; S.-H. Lee; Y. Li; Z. Q. Liu; D. Liventsev; D. Matvienko; K. Miyabayashi; H. Miyata; R. Mizuk; A. Moll; N. Muramatsu; E. Nakano; M. Nakao; Z. Natkaniec; M. Nayak; E. Nedelkovska; C. Ng; N. K. Nisar; O. Nitoh; A. Ogawa; S. Ogawa; T. Ohshima; S. Okuno; S. L. Olsen; C. Oswald; P. Pakhlov; H. Park; H. K. Park; T. K. Pedlar; R. Pestotnik; M. Petrič; L. E. Piilonen; M. Röhrken; H. Sahoo; Y. Sakai; S. Sandilya; L. Santelj; T. Sanuki; Y. Sato; O. Schneider; G. Schnell; C. Schwanda; K. Senyo; O. Seon; M. E. Sevior; M. Shapkin; C. P. Shen; T.-A. Shibata; J.-G. Shiu; B. Shwartz; A. Sibidanov; F. Simon; P. Smerkol; Y.-S. Sohn; A. Sokolov; E. Solovieva; M. Starič; M. Sumihama; T. Sumiyoshi; G. Tatishvili; Y. Teramoto; T. Tsuboyama; M. Uchida; T. Uglov; Y. Unno; S. Uno; Y. Usov; C. Van Hulse; G. Varner; V. Vorobyev; M. N. Wagner; C. H. Wang; J. Wang; M.-Z. Wang; P. Wang; M. Watanabe; Y. Watanabe; K. M. Williams; E. Won; Y. Yamashita; V. Zhilich; V. Zhulanov

Back to Results

Precision Measurement of Charged Pion and Kaon Differential Cross Sections ine+e−Annihilation ats=10.52 GeV

External Source

Document Type

Accepted Manuscript

Authors

Date Acquired

February 10, 2024

Publication Date

August 6, 2013

Publication Information

Publication: Physical Review Letters

Publisher: American Physical Society (APS)

Volume: 111

Issue: 6

ISSN: 0031-9007

e-ISSN: 1079-7114

DOI: 10.1103/physrevlett.111.062002

Distribution Limits

Public

Keywords

Available Downloads

There are no available downloads for this record.

Document Not Available for PreviewClick to Access Document

NTRS

NTRS - NASA Technical Reports Server

Available Downloads

Related Records